芯片反向设计
鸿芯科技芯片反向设计服务包括网表/电路图反向提取、电路层次化整理、逻辑功能分析、版图提取与设计、设计规则检查调整、逻辑版图验证、单元库替换以及工艺尺寸的缩放等方面。 通过这些逆向分析手段，我们可以帮助客户了解其他产品的设计,用于项目可行性研究、打开思路、寻找问题、成本核算等，比如：在进入新领域之前，评估、验证自己技术方案和设计思路的可行性；通过对市场上成熟产品的研究，协助解决关键性的技术问题；利用已有产品的市场资源，降低进入壁垒，实现更好的产品兼容性等等。电路修改
我们利用先进的聚焦离子束机（FIB）通过刻蚀和沉积的方法能够修改多层布线的集成电路芯片。主要服务项目包括集成电路芯片引线修改（能够修改最小工艺为90nm）；集成电路芯片材料和成分鉴定；微电路故障分析（最小尺寸为40nm）；制作纳米级的光电子器件、生物传感器件和超到电子器件等。
网表/电路图提取
在芯片反向工程中，网表/电路图提取是非常重要的工作。网表提取的质量和速度直接影响后面整理、仿真和LVS等方方面面的工作。 鸿芯科技在长期的技术研究中已经成功总结了一套切实可行的规范和方法，可以高质量高速度的提取各种类型电路的网表。
逻辑功能分析
网表提取结束后，往往需要进行电路的整理工作，把一个打平（flatten）的电路进行层次化（hiberarchy）整理，形成一个电路的层次化结构，以便理解设计者的设计思路和技巧，同时还能达到查找网表错误的目的。 鸿芯科技通过对电路的各个层次模块的整理和分析，不仅可以充分理解芯片设计者的设计思想和设计技巧，还可以在分析总结先进设计思路的基础上实现自身设计能力的提高
版图设计
版图设计是电路逻辑的物理实现，是集成电路产品实现（ChipLogic Layeditor）。鸿芯科技在反向设计的基础上提供版图的提取、工艺库替换、目标工艺修改、DRC检查和LVS校验等各种设计服务。 逻辑版图验证 网表和版图设计结束后，往往需要对其正确性进行各种验证，为了保证设计流程的完整性，鸿芯科技提供芯片网表数据和版图数据的各种验证服务。
